Plateforme XPS

L’XPS sonde la répartition énergétique des électrons dans un matériau (niveaux de cœur et de valence), sur la surface du matériau (profondeur d’analyse environ 5 nm). Elle donne accès à la composition chimique élémentaire de la surface (tous les éléments chimiques excepté H et He). Une étude plus approfondie permet d’accéder au degré d’oxydation des atomes et à leur environnement chimique proche.Enfin, l’analyse des bandes de valence XPS, couplée à des calculs quantiques, permet de comprendre la structure électronique des matériaux.

Plus précisement, l’XPS permet :

1. l’étude de la composition chimique des surfaces et interfaces,
2. l’étude de la composition des couches de passivation formées sur les électrodes,
3. l’étude des transferts électroniques (oxydation, réduction) lors du fonctionnement des électrodes par le suivi des degrés d’oxydation des éléments métalliques,
4. l’étude des mécanismes de dégradation, de la réactivité de surface électrode/ électrolyte,
5. la validation expérimentale de la structure électronique de valence des matériaux prédite par le calcul etc…

Équipements et moyens humains

>Financés par le RS2E

• Appareil en cours d’achat (cofinancé RS2E/IPREM)

>Autres financements

• XPS Kratos Axis Ultra, équipé d’une boîte à gants sous atmosphère contrôlée d’argon (couplage/Micromeritics Autochem 2920  – chimisorption de sondes gazeuses…)
• XPS Thermo Khalpha
• Nanosonde Auger (SAM: Scanning Auger Microscopy) JEOL  – JAMP 9500F, avec introduction des échantillons par cellule de transfert sous vide depuis une boîte à gants sous atmosphère contrôlée d’argon. Cartographie de la répartition des éléments en surface (profondeur d’analyse 5 nm), résolution latérale 10 nm.

>Moyens humains

• Un MdC, une IR, un IE, une DR CNRS, un Pr